掃描探針電子顯微鏡力學特性主要包括相位模式（PM）、摩擦力顯微鏡（FFM）、橫向調製FFM（LM-FFM）、粘彈性原子力顯微鏡VE-AFM、粘附力原子力顯微鏡。
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相位模式（PM）：DFM測量是根據吸附能力大小、硬度、柔軟度來檢測懸臂振動中的相位滯後現象，並觀察樣品表面物理性質的差異。
相位模式（PM）
摩擦力顯微鏡（FFM）：沿懸臂扭轉方向掃描樣品。探針和樣品之間產生的摩擦力促使懸臂扭轉，同時獲得樣品摩擦和形貌像。
摩擦力顯微鏡（FFM）
橫向調製FFM（LM-FFM）：摩擦圖不受樣品凹凸和掃描方向影響，透過水平方向（懸臂扭轉方向）微振動，即可觀察樣品並測量出懸臂的扭轉量。
橫向調製FFM（LM-FFM）
粘彈性原子力顯微鏡VE-AFM：透過垂直微振動來觀察樣品的粘彈性影象，並測量出由於表面粘彈性差異造成的不同的懸臂扭轉量（垂直方向上的振動）。
粘彈性原子力顯微鏡VE-AFM：
粘附力原子力顯微鏡：垂直方向上微振動樣品；重複探針與樣品週期性接觸分離的動作；探針與樣品分離時檢測懸臂的扭轉量；觀察吸附力分佈情況。
粘附力原子力顯微鏡
