原子吸收分光光度計背景校正方法主要有D2（氘燈）校正法、HCL的自吸校正法以及偏振塞曼校正法，上一期給大家仔細講解的了D2（氘燈）校正法和HCL的自吸校正法，這一期詳細介紹偏振塞曼校正法的原理以及他的優勢。
日立原子吸收分光光度計ZA3000
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如果在原子化器內向原子蒸氣施加磁場，將在原子蒸氣的吸收光譜裂分的同時出現偏振現象。但背景（BKG）不受磁場影響，不會出現裂分和偏振。利用該現象的校正方法即為偏振塞曼校正法。
在原子吸收分光光度計中對於光源光中與磁場平行的偏振成分，可以觀測“π成分原子吸收+BKG吸收”。但對於與磁場垂直的偏振成分，僅能觀測“BKG吸收”。（引起原子吸收的σ成分隨著測定波長的漂移，不會產生原子吸收。）
原子吸收分光光度計偏振塞曼校正法的優點：
1、原子吸收分光光度計偏振塞曼校正法採用與磁場平行的光（表面的原子吸收線）和與磁場垂直的光（需扣除的BKG吸收線）均透過在空間上光路完全相同的雙光束測定法（1束光經偏振子裂分為2束），因此無漂移、基線穩定。D2（氘燈）校正法及自吸校正法均分別測定性質不同的2束光，該方式稱為單光束測定法。 因為單光束測定法不是在同一狀態下測定2束光，所以存在基線漂移。
2、原子吸收分光光度計偏振塞曼校正法適合全波長區域。
D2校正法
1、僅適用於紫外區域的校正。
2、在石墨爐原子化法中效果較差。
自吸校正法
1、有些元素無法測定。
2、空心陰極燈需進行非正常點燈，燈的消耗大。
以上是日立原子吸收分光光度計偏振塞曼校正法的主要內容，下一期跟大家講解原子吸收分光光度計的使用方法，具體將從火焰法、石墨爐法、氫化物發生法、冷原子法跟大家詳細分析，請大家持續關注蘇州思普萊科學儀器應用。
