介質損耗和介電常數測試儀操作步驟-廈門科王電子
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有複合材料等的一項重要的物理性質，透過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步瞭解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的效能提供依據；儀器的基本原理是採用高頻諧振法，並提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧迴路，使得調諧測試迴路的殘餘電感減至最低，並保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振迴路的Q值，電感器的電感量和分佈電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻迴路有效並聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用於科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料效能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T5594.4-1985。
介電常數測試方法與步驟
1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試迴路的“電容”兩個端子上。
2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。
3. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣洩漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要儘可能平整。
4. 調節S916測試夾具的測微杆，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設定為0。
1. 再鬆開兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節S916測試夾具的測微杆，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的測微杆，以免夾得過緊或過鬆），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量（旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量），使主機處於諧振點（Q值最大值）上。
2. 取出S916測試夾具中的樣品，這時主機又失去諧振（Q值變小），此時調節S916測試夾具的測微杆，使主機再回到諧振點（Q值最大值）上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.
3. 計算被測樣品的介電常數:
Σ＝D2 / D4
介質損耗測試方法與步驟
1. 分佈容量的測量
a) 選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；
b) 將調諧電容器調到最大值附近500P左右，令這個電容是C1，
c) 按下儀器面板的頻率搜尋鍵，使測試迴路諧振，諧振時Q的讀數為Q1；
d) 將測試夾具接在“Cx”兩端，放入材料，測出材料厚度後取出材料，調回到剛才材料厚度，調節主調電容，使測試電路重新諧振，此時可變電容器值為C2，Q值讀數為Q2。
機構電容的有效電容為：Cz= C1－C2
分佈電容為機構電容CZ和電感分佈電容C0（參考電感的技術說明）的和電容器損耗角正切為
1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試迴路的“電容”兩個端子上。
2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。
3. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣洩漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要儘可能平直。
4. 調節S916測試夾具的測微杆，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設定為0。再鬆開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節S916測試夾具的測微杆，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過鬆），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2，改變主機上的主調電容容量，使主機處於諧振點（Q值最大值）上，然後按一次 主機上的小數點（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x，記住厚度D2的值。
5. 取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變小），再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處於諧振點（Q值最大值）上。
6. 第二次按下 主機上的小數點（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時顯示介質損耗係數tn =．x x x x x ，即完成測試。
7. 出錯提示，當出現tn = NO 顯示時，說明測試時出現了差錯，發生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
